ADI LTC6813低频抗扰测试解决方案
通常汽车零部件受到的磁场干扰可以分为内部或外部干扰源干扰，其中内部干扰源包括汽车的电动马达、制动器等；而外部干扰源包括功率传输线、充电站等。低频磁场抗扰测试 MFI的方法是将DUT暴露在干扰磁场中进行测试。辐射环可以产生干扰磁场，还可以用于小型DUT测试，或者采用多点放置的方法来测试大型DUT。本文为大家介绍一种 BMS采样板针对低频磁场抗扰测试的解决方案。
MFI 测试设置
低频磁场抗扰MFI测试布置如下图(图1)所示，DUT的每个面都要划分100mm*100mm的均匀方格区域，辐射环则平行放置于距离这些小方格中心50mm的位置进行测试。线束中的所有导线需按照实际的车载应用进行端接或空载，如可能，还要安装实际的负载或制动器。
图1 辐射环测试布置
本文应用的测试频段为15Hz~150KHz，推荐的测试严酷定级划分如下表(表1)所示：
Frequency band Hz
Test level Ⅰ A/m
Test level Ⅱ A/m
Test level Ⅲ A/m
Test level Ⅳ A/m
Test level V A/m
0 (d.c)
90
300
900
3000
Specific value agreed between the users of this part of ISO 11452
15 to 1000
30
100
300
1000
1000 to 10000
30/(ƒ/1000)2..
