满足高速吞吐量的需求：如何对半导体生产测试测量进行优化

半导体器件测试对测试工程师的挑战在于，如何在确保精确度的情况下，最大化测试产能。高电流和高电压是目前半导体器件测试的崭新挑战。在这次研讨会中，我们能够学到：高速而精准的半导体器件和材料测试；通过正确选择测试电缆确保最佳低电平测量的精准度；使用内置测试脚本和并行测试系统优化量产测试及数据分析；深刻理解在高压测试系统中，四象限源表在充放电过程中的对回路造成的影响。