本研讨会专为有工业测控系统开发需求的工程师而设计,帮助工程师在LabVIEW图形化环境下高效实现测控系统的开发、调试与产品化。讲座中将分别从控制系统和测试系统两个角度分别介绍定制和开发的步骤。涉及I/O选型、信号处理、控制算法设计及系统调试等多个步骤。
研讨会还将涉及领先的NI RIO技术,将商业现成可用的FPGA、模块化的I/O以及工业实时处理器封装在在一个紧凑坚固的工业级外科中,满足各种工业测控系统的特殊需求,如:微秒级的PID控制、控制算法设计、自定义协议开发、野外分布式同步采集、 GPS同步…
方慧敏
NI中国技术市场工程师
马夏怡
NI中国应用工程师
叶智豪
NI中国应用工程师