| 吉时利仪器公司为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-- 4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入 4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在 4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验，都能使用该仪器实现专业级的C-V测量。 4200-CVU附带最完整的测试库，极大提高了测量效率。如果与吉时利 4200-LS-LC-12结合使用将实现更高测量效率。 4200-LS-LC-12是带有电缆和适配器的专用开关矩阵卡，通过单针探测能实现高度集成的C-V/I-V测试。4200-PROBER-KIT为可选模块，使用该模块能轻松将 4200-SCS与各种广泛使用的探头相连，最终帮助用户如I-V测试一样轻松配置和执行功能全面的C-V测试。 |