本研讨会介绍了吉时利仪器最新的超快速IV测量技术（Ultra-Fast IV），及其如何影响最新的半导体器件特性表征。通过使用超快速IV量测技术，我们的用户可以得到以往无法得到但却至关重要的器件特性。 这一技术尤其对于那些在半导体器件研究前沿的客户（如High-K材料，SOI工艺，有机半导体体，新型存储器件，纳米器件等）尤为重要。
座谈专家
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顾轶峰
2004年毕业于上海交通大学测控技术与仪器系。 2006年加入美国吉时利仪器上海办事处，主要负责吉时利仪器半导体参数测试系统，半导体参数分析仪的技术支持工作。
应用工程师 -
赵咏梅
于1997年7月毕业于上海交通大学信息与控制工程专业,获工科学士;2004年3月获上海交通大学工学硕士。先后任职于上海交通大学,泰瑞达(上海)有限公司。于2007年加盟吉时利公司,任应用工程师经理。
应用工程师经理
厂商介绍
