加入我们的在线研讨会,我们将深入探讨MEMS开关如何变革AI系统的高速环回测试。
此类微小但强大的器件正在重塑高速信号路由,尤其是在高带宽内存(HBM)和图形处理器(GPU)等前沿架构中。
我们将探讨MEMS开关如何通过支持直流参数测试和高速环回测试,来提升HBM和GPU的测试覆盖率。如果您从事AI硬件相关工作并希望引领趋势,本次研讨会就是为您准备的。
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Francis Tanhueco
自动测试设备部产品应用资深工程师
ADI公司