芯片输入输出缓冲电路和ESD保护电路的应用设计
根据 I/O 缓冲电路应用目标的不同，可将其分为输入、输出等几类，详见表 1。
表 1 I/O 缓冲电路的分类
输出缓冲
输出缓冲电路的功能要求能够驱动大的片外负载，通常为 2～50pF，并且提供适当的上升 / 下降时间。一组连续的大尺寸的缓冲器（buffer）对驱动能力的提高是有益的。大尺寸的管子容易受闩锁效应（latch-up）的影响，在版图设计时建议采用保护环（Guardrings）保护以避免闩锁效应，如图 1-1 所示。在图中，用 P+作为内保护环，而 N+作为外保护环（In n-well）。
图 1-1 缓冲器
一种常见的输出电路如图 1-2 所示，En 是输出电路的使能信号，Dout 是输出数据，MOS 管组合的功能如图中所示。当 En 为低而 Dout 有效时，A、B 均为高电平，输出 Y 为低，且由外向里看为高阻抗状态，如果 Dout 未定，则 Y 为高阻。需要注意的是，最后输出级的管子尺寸要大到能够提供足够的电流源或电流沉并且减少延迟时间。其负面影响是电流变化率（di/dt）变大而使穿过输出点到封装的压焊线上的 L（di/dt）噪声增大，从而导致较大的片上噪声。
图 1-2 常用的输出缓冲电路
在高性能的芯片中，如 32 位的微处理器，如果多个 I/O 输出驱动电路工作状态相似时，L（di/dt）噪声可能逐步增强，会影响芯片速度。图 1-3 通过加入一个闸控制信号（ST），并结合时序的控制，可以减小 L（di/dt）噪声。
图 1-3 降低 L（di/dt）噪声的电路
输入缓冲
图 2-1（a）升压电路 图 2-1（b）降压电路
输入缓冲电路的另外一个作用是对噪声的滤除。对于噪声的危害，噪声寄生在信号电平上可能造成比较器的误判就是一个突出的例子。施密特触发器利用磁滞效应的原理对消除这种噪声干扰有很好的效果。图 2-2 是施密特触发器的结构和磁滞现象中的磁滞回路。这样，即使重叠噪声（noise）混入电路，该噪声如果没有超越磁滞宽度的话，输出就不会产生多次拉动（multi pull trigger）的误动作，只会出现与磁滞宽度相同的响应延迟。
图 2-2（a）施密特触发器 图 2-2（b）磁滞现象中的磁滞回路
静电放电保护也是输入缓冲电路的一个基本功能，通常用二极管钳位，如果电压过高将会使其导通，使大电流泄走，在后文的静电放电保护部分会有更多讨论。
双向缓冲
双向缓冲，即兼有输入输出功能的双向缓冲电路，输出时有三态驱动，可以使用使能（enable）信号来区分输入输出状态。并且可以优化三态输出以避免使用大尺寸的管子。根据前面对输入和输出缓冲的单独描述，组合起来并用使能信号控制，得出双向缓冲电路如图 3-1 所示。
图 3-1 双向缓冲电路的结构框图
图 3-2 给出了一个 0.6μm 工艺的双向 I/O 缓冲简化电路。图 3-3 是其版图。该电路及版图设计包括了保护电阻、保护二极管、保护环、场氧钳制（Field oxide clamps）等。
图 3-2 一个 I/O 缓冲的简化电路
图 3-3 示例的版图
模拟信号引脚接口电路
模拟信号引脚接口电路是直接将模拟信号精确的输入或输出，故无须额外的缓冲电路（buffer），而且保护电路也不可对电压 / 电流信号有所扭曲。图 4-1 给出了一种模拟信号引脚接口电路的结构和等效电路。三极管的短接方式实际等效为二极管，如果工艺库提供专门的二极管，则无须这样的替代。
图 4-1 模拟 I/O 的结构和等效电路（以 TMSC0.35μm 工艺为例）
电源，时钟等信号的引脚电路与之类似。有时还需要串接一个保护电阻，其作用是避免大电流对二极管的冲击，而坏处是可能引入热噪声。对于输入缓冲，保护电阻的值应该设计得较大，如 200 到 2000 欧姆；电源、时钟信号的缓冲电路则选择小一些。
ESD 保护
通常，穿尼龙制品的人体静电可能达到 21，000V 的高压，750V 左右的放电可以产生可见火花，而仅 10V 左右的电压就可能毁坏没有静电保护的芯片。在正常工作情况下，静电放电保护电路设计，除对静电放电保护外，还有栅氧化层（Gate Oxide）的可靠性，避免额外漏电等问题；有省电模式的芯片，静电放电电路还须考虑在省电模式时，避免额外漏电流对内部芯片产生误操作。在静电放电发生时，保护电路必须保护内部电路不受放电电流伤害。此外，还需要考虑静电放电保护电路的低持有电压（Holding Voltage）特性可能带来的闩锁效应（Latch-up）或类似闭锁效应（Latch-up-Like）。这也使得高性能的静电放电电路设计变得复杂，如果要详细讨论这些问题需要单独的论述。
静电放电保护标准有常用的工业标准（+/-2000V），IEC61000-4-2 标准（+/-15000V，+/-8000V）等，可以根据芯片工作环境做相应的保护设计。
图 5-1 给出了人体静电放电模型及静电放电保护电路工作时电流回路示意图。高压将钳位二极管导通，电流经 VDD，静电放电钳制电路等泄入地端，避免内部电路受损。
图 5-1 芯片的 ESD 保护电路模型
一种常见的 ESD 钳制电路如图 5-2 所示。芯片正常工作时，A 点电位为高，B 点为低，Mn1 不导通。当瞬间的静电高压冲击到来时，图 5-1 中的二极管导通，VDD 为静电高压，RC 电路对高压有延迟，故 A 点电压较 VDD 上升慢，而使反相器 PMOS 管导通，B 点电压上升，使大尺寸的 Mn1 管导通，静电电流被泄载掉。需要注意，人体静电放电上升时间为 10ns 量级，芯片启动为 ms 量级，ESD 钳制电路的 RC 时间常数应在两者之间，通常可以取 0.1μs 到 1μs 量级。另外，高压对电路冲击的效应是较难模拟的，ESD 电路的版图设计需要特别小心。
图 5-2RC 电路结构的 ESD 钳制电路
ESD 保护设计随着 CMOS 工艺的演进而越来越困难，迄今已有六百多件 ESD 相关的美国专利。而且，ESD 更应当从芯片全局考虑，而不只是 Input PAD，Output PAD，或 Power PAD 的问题。各个 PAD 都有很好的 ESD 防护能力，并不说明整个芯片的 ESD 防护能力就一定好。采用整片（whole-chip）防护结构是一个好的选择，也能节省 I/O PAD 上 ESD 元件的面积。整片 ESD 防护结构同样是各大 IC 设计公司专利竞争的焦点，所以，IC 设计公司应该特别注意这些技术的发展。
