| 科利登系统有限公司推出业界性价比最高、性能最为出众的解决方案Sapphire D-6432DFT，用于测试新兴的高速计算和消费应用中所使用的微处理器、游戏及图形器件。该设备的推出再次强化了科利登市场领先的Sapphire测试平台。 Sapphire D-6432DFT设备是首款用于高速串行总线的集成测试解决方案，在一次插入中结合了高速环路测试、抖动测量和注入信号，以及扫描/功能性测试和DC参数测量。D-6432DFT的密度比同类产品高出4倍，可为制造商提供突破性的可测性设计（DFT）方法，助其显著降低高速半导体器件的总体成本并缩短上市时间。 这一新设备是与领先的微处理器生产厂商AMD公司合作开发的。目前，AMD的工程师正采用Sapphire平台和D-6432DFT加速其最先进产品的测试和上市周期。在全球数以百计的Sapphire平台装机量中，已有200多个D－6432DFT设备安装在了屡获殊荣的Sapphire平台中，进行生产测试。 为了实现更高的数据速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越来越多的应用。然而，高速总线对传统"功能"测试方法的成本、复杂性和周期都提出了挑战。这些不确定因素在低速测试时能运作无误，但速度高于6 Gbps以上时，则有可能产生风险。目前的"近端"环路（即利用设备来输出测试数据，再回收数据至设备以进行识别）技术简单、性价比高，但难以有效地处理抖动、信号变异和协议性能，从而导致测试不完全或测试死角。集成电路制造商需要采用可测性设计方法，才能对那些影响设备和系统性能的关键变量进行灵活、全面的测试。 远端环路：卓越的抖动测量和控制，提供更高的价值Sapphire D-6432DFT有效地应用了创新的远端环路技术，既具有可测性设计的灵活性，又有功能测试所具备的深层诊断能力。通过将待测器件置于高性价比的智能测试设备通道中，延长了反馈路径，也首次实现了高速总线在生产级的测试。与以往那种投资多台设备测试少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了广泛的功能，可在单台设备上测试多达16个通道。其优势包括： 每一通道通过集成电路实现同时的、并行的抖动注入和抖动测量，并不需要附加设备 电压和时间域中的全封闭眼图测试 除了极低成本的差分测试，还集成了用于扫描/功能性测试的400/800 Mbps数据子系统 增加了解决信号完整性问题的灵敏度覆盖检测 接收器和发送器通道可用来为内核逻辑和协议堆栈提供测试向量 用于全面DC参数测试的器件管脚存取 Sapphire D－6432DFT设备现已投放市场。在7月17日至18日举办的Semicon West 展会期间, 科利登技术中心展出了Sapphire D-6432DFT设备，还现场展示了科利登完整的测试解决方案，包括曾经获奖的Sapphire平台和Diamond 平台。 详情请访问：www.credence.com.cn/ |